冷热冲击交变模拟环境老化箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、 航天、工业、电子芯片IC、半 导体陶瓷及高分子材料之物理性变化。

三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品*静止于测试区。采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。

冷热冲击交变模拟环境老化箱符合标准：

GB/T2423.1-1989低温试验方法； GB/T2423.2-1989高温试验方法；

GB/T2423.22-1989温度变化试验； GJB150.5-86温度冲击试验；

GJB360.7-87温度冲击试验； GJB367.2-87 405温度冲击试验；

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；

SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；

GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；

GB/T 2423.22-2002温度变化；

QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则；

EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估；