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400-7075-800升降温速率可以调节试验箱适用于航空航天产品,通讯产品,信息电子仪器仪表,工业材料,零配件,电子产品,各种电子元器件等物品做应力筛选试验。
升降温速率可以调节试验箱符合标准:
GJB/150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验。
GJB/150.4A-2009 装备实验室环境试验方法第4部分:低温试验。
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验。
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)。
GJB/150.9A-2009 装备实验室环境试验方法第9部分:湿热试验。
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温。
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温。
GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验N:温度变化。
GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件。
产品&规范 | 厂商名称 | 高温 | 低温 | 温变率 | 循环数 | 循环时间 | 备注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 电子产品应力筛选 | —— | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16 电子设备环境应力筛选 | 设备或系统 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19 电子设备环境应力筛选方法 | —— | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 10℃/min | 10 | —— | 驻留时间为内部达到温度10℃时 |
NABMAT-9492 美军制造筛选 | 设备或系统 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 驻留时间为内部达到温度5℃时 |
GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选指南 | 组件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 达到温度稳定的时间 |
GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选指南 | 设备或系统 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 达到温度稳定的时间 |
笔记本电脑 | 主板厂商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
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